X線回折装置

目的
粉末X線回折法による物質の固定及び評価。ラウエ写真法による結晶の方位決定。半導体、磁性、超伝導材料などの機能性材料の非破壊による格子定数、結晶化度、物質同定、定量及び定性分析を行い原始レベルの構造情報を得る。

仕様
装置名称:新形自動X線回折装置 RINT-2100型、Lタイプ(拡張形)
X線発生部最大定格出力
定格電流、電圧
安定度
ターゲット
焦点サイズ
シールド
2kW
2〜50mA、20〜60kV
±0,01%以内
封入管 Cu, W
1×10mu
電磁シャッター
ゴニオメーター部走査モード
2θ側角範囲
設定再現性
スリット
θ-2θ連動、及びθ、2θ単独
-60〜+163deg
±0.001deg
自動交換スリット
検出部、計数部計数直線性
シンチレーター
500,000cps以上
NaI, プリアンプ付フォトマルチプライヤ
コンピュータ部主メモリ
ハードディスク
プリンタ
32MB
1GB
レーザープリンタ
その他製造元理学電機(株)

利用手順

  1. 装置責任者(古澤)に連絡し、試料、測定法、マシンタイム等を打ち合わせします。
  2. 群馬大学SVBLの利用規定に従って正規の利用手続きをしてください。
  3. 装置責任者または熟練者の立会いのもとマニュアルに従って装置を利用する。

利用上の注意点

  1. 測定方法によってはターゲットを交換する必要があるので予めご相談ください。
  2. X線の被爆にご注意ください。特に、ラウエ法では安全装置を解除しなくては調整ができないことがあります。備えつけのX線防護服を着用してください。
  3. マニュアルに書いてある注意事項を必ず守ってください。
  4. ラウエ法では通常のラウエカメラの他、ポラロイドカメラの用意しています。
  5. フィルム、現像液、定着液、停止液は利用者負担となっております。ご用意ください。
  6. データ保存用のディスク(3.5インチ1.44MBフォーマット済)を用意してください。

設置場所:
装置責任者:古澤伸一 (ex.1727, furusawa@el.gunma-u.ac.jp)

分類
B. 物性評価、特性計測
更新日
2005/01/21