光波評価測定システム

仕様  

  1. 光パルス試験器(OTDR) 日本HP梶FHP8147
    OTRにより長尺な光ファイバ中の損失や欠陥の分布(位置及び大きさ)計測する機器。
     a. 波長帯:1310/1550±15nm
     b. ダイナミックレンジ:>28dB
     c. 適用ファイバ:FCコネクション付きシングルモードファイバ
     d. デッドゾーン:10m以下
     d. 記録機能:3.5"FDD 内蔵

  2. 回折格子型光巣ペクトラムアナライザ アンリツ梶FMS9030A+MS9701C
    回折格子による高速広帯域光巣ペクトラムアナライザ。
     a. 波長範囲:350〜1750nm
     b. 測定レベル:-60dB以下、ダイナミックレンジ:30dB以上。
     c. 偏波依存性:0.5dB以下
     d. 波長掃引幅:〜120nm、繰り返し波長再現性:0.1nm以下
     e. 入力端子:FCコネクタ
     f. インターフェース:GP-IBインターフェース内蔵

  3. 走査 Fabry-Perot 型光スペクトラムアナライザ キノ・メレスグリオ梶F13SAE048
    走査 Fabry-Perot エタロンによる共振型高精度光スペクトラムアナライザ
     a. 波長範囲:1300〜1550nm
     b. FSR:10GHz、フィネス:200
     c. 入力端子:FCコネクタ
     d. ディテクタ:Ge フォトダイオード(増幅器内蔵)

  4. マイクロ波スペクトラムアナライザ 日本HP梶FHP8563E
    高周波ビート信号が測定可能な広帯域スペクトラムアナライザ。
     a. 周波数範囲:30Hz〜26.5GHz、周波数スパン:0Hz、100Hz〜26.5GHz
     b. 周波数基準確度:±1×10-8(温度安定性)、
      ±1×10-7(エージング/年)±1×10-8
     c. 側帯波雑音:<-80dBc/Hz
     d. 平均雑音レベル:-90dBm以下
     e. 周波数レスポンス:±1.25dB(30Hz〜2.9GHz)、±3.3dB(22.0GHz〜26.5GHz)
     f. インターフェース:GP-IB(HP-IB)インターフェース内蔵

設置場所:SVBL実験室3

管理者:横田正幸 (ex.1748, yokota@el.gunma-u.ac.jp)

分類
C. デバイス設計、評価システム
更新日
2005/01/25